藍(lán)景密封性測(cè)試儀支持普通和梯度雙試驗(yàn)?zāi)Ｊ?/h1>

更新時(shí)間：2025-06-12      點(diǎn)擊次數(shù)：55

密封性測(cè)試儀支持普通和梯度雙試驗(yàn)?zāi)Ｊ?/strong>，為不同類(lèi)型的密封檢測(cè)提供靈活解決方案。普通模式適用于常規(guī)密封性能測(cè)試，通過(guò)設(shè)定固定真空度與保壓時(shí)間，快速判斷試樣是否存在泄漏，在文具包裝、汽車(chē)零部件密封檢測(cè)中，單批次檢測(cè)時(shí)間僅需 30 秒，日均處理量可達(dá) 500 件。

梯度模式則針對(duì)復(fù)雜場(chǎng)景設(shè)計(jì)，可自定義多段真空度與保壓時(shí)間，模擬產(chǎn)品在不同環(huán)境壓力下的密封表現(xiàn)。在電子元器件包裝檢測(cè)中，通過(guò)設(shè)置 0kPa→-30kPa→-60kPa→-90kPa 的梯度壓力變化，儀器成功檢測(cè)出因熱脹冷縮導(dǎo)致的隱蔽性泄漏，而傳統(tǒng)儀器在此類(lèi)檢測(cè)中漏檢率高達(dá) 30%。雙模式自由切換，使儀器既能滿足大批量快速檢測(cè)需求，又能應(yīng)對(duì)高難度精密檢測(cè)任務(wù)，成為企業(yè)實(shí)驗(yàn)室的 “全能檢測(cè)專(zhuān)家"。

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